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제조 완벽성을 끊임없이 추구하는 과정에서 반도체 웨이퍼의 단 하나의 미크론 단위 흠집이나 배터리 셀의 미세 균열은 치명적인 고장을 초래할 수 있습니다. 생리적 제약과 주관적 판단에 제약받는 기존의 인간 검사는 오늘날의 나노 단위 생산 허용 오차를 따라잡는 데 어려움을 겪고 있습니다. 바로 이러한 상황에서 일체 포함 기반 비전 검사 시스템이 궁극적인 품질 수호자로 부상하고 있습니다. 광학적 정밀성과 알고리즘 지능을 결합하여 한때 불가능했던 것을 가능하게 합니다.
오늘날의 고속 제조 환경에서는 움직이는 생산 라인에서 밀리미터 미만의 결함을 감지하는 데 초인적인 능력이 요구됩니다. 기존의 규칙 기반 비전 시스템은 조명, 질감, 물체 방향의 변화에 따라 제대로 작동하지 않습니다. 바로 이 부분에서 딥러닝(디엘)과 광학 센싱의 융합이 패러다임을 전환합니다. 일체 포함 기반 시각 검사 및 광학 분류기가 어떻게 전례 없는 정확성과 적응성을 달성하는지 살펴보겠습니다.
소형화와 초연결성을 향한 끊임없는 노력은 커넥터 제조업체에 엄청난 압력을 가하고 있습니다. 단 하나의 미크론 단위의 결함도 치명적인 시스템 고장으로 이어질 수 있는 이 고위험 분야에서, 커넥터 광 분류기는 정밀성과 품질을 지키는 필수적인 수호자로 부상했습니다. 이 정교한 기계는 단순한 품질 관리 도구가 아니라, 우리 세상을 움직이는 수많은 전자 기기의 신뢰성을 보장하는 기반입니다.
유니테크(유니테크)는 광학 분류 기술 분야에서 획기적인 발전을 이루어 두 건의 국가 특허를 확보했습니다. 중국 국가지식재산권국에 따르면, 해당 특허에는 각각 2024년 4월과 5월에 출원된 "다기능 광학 분류 워크스테이션"(승인 번호: CN222402392U)과 "자동 재료 센터링 구조를 갖춘 광학 이미지 분류기"(승인 번호: CN222402365U)가 포함됩니다.
정밀성과 혁신의 시대에 광학 분류기는 기술 발전의 등대로 자리 잡고 있습니다. 최첨단 광학의 힘을 활용한 이 기계는 다양한 산업에서 정확성과 생산성의 표준을 새롭게 정의합니다. 이 장치는 세련된 알고리즘과 세련되고 컴팩트한 디자인을 완벽하게 통합하여 디자인의 예술이 과학을 만납니다.
외관 검사 장치의 작동 원리는 산업용 카메라의 이미지 분석에 의존합니다. 극성 문제, 정렬되지 않은 가장자리 씰, 누출, 버클이 풀린 가장자리, 열린 씰, 비원형 씰, 0.2mm보다 큰 돌출부, 결함 있는 캡, 잘못된 사양, 불량 납땜 지점, 색상 불일치 및 누락된 핀과 같은 다양한 결함에 대한 기능 테스트를 사용자 정의합니다. 크기 감지에는 길이, 너비, 높이, 나사산 직경 및 특정 지역 요구 사항과 같은 치수 확인이 포함됩니다.
제품이 영상 센서 아래로 이동하면 인덱싱 플랫폼이 멈추고 CCD가 비교를 위해 이미지를 캡처하도록 신호를 트리거합니다. CCD는 데이터를 처리하여 제품이 품질 기준을 충족하는지 확인합니다. 제품이 통과하면 CCD는 인덱싱 플랫폼에 다른 신호를 보내 다음 작업 스테이션으로 이동하여 다른 이미지 분석을 진행할 수 있습니다. 이 연속적인 사이클은 모든 항목이 검사될 때까지 반복되고, 그런 다음 프레임으로 배출됩니다.
